Ausgezeichnete Fehlerdiagnose und schnelle Programmierung für die Fertigung.
Liefern Sie bewährte, qualitativ hochwertige Leiterplatten schneller und kostengünstiger mit XJTAGs integrierter Testentwicklungsumgebung.
Testen ohne Testpunkte
Erreichen Sie auch Stellen, an die kein Nadelbettsystem gelangt
Schnellere Fehlersuche
Bauen Sie auf die Merkmale von Boundary-Scan
Niedrigere NRE-Kosten
Vereinfachen Sie Ihre Testsysteme
Flexible Integration
Machen Sie XJTAG zum Bestandteil Ihrer gesamten Testlösung
Erreichen Sie auch Stellen, an die kein Nadelbettsystem gelangt. Boundary-Scan-fähige Geräte geben XJTAG Zugriff auf ihre Pins, so dass sie in virtuelle Testpunkte umgewandelt werden. Physischer Zugang stellt keine Einschränkung mehr dar, so dass Sie mehr Ihres Designs testen können.
XJTAG Produkte machen den Zugriff auf Boundary-Scan durch leistungsstarke Verbindungstests und eine umfangreiche integrierte Test-Bibliothek für Tausende von Nicht-JTAG-Komponenten sehr simpel. Ohne Testpunkte können Sie Verbindungen zwischen BGA-Komponenten problemlos testen, wie zum Beispiel Datenleitungen zwischen zwei JTAG-Komponenten oder einer JTAG-Komponente und ihrem Speicher.
Mit XJTAG können Sie mehr von Ihrem Design testen, einschließlich der Funktion von vielen Nicht-JTAG-Komponenten, um so Herstellungsfehler schnell lokalisieren und beheben zu können.
Mit XJTAG können Sie erfolgreich:
- Testzugriffsbeschränkungen überwinden
- Ohne physische Prüfung testen
- Die Konnektivität von BGAs & Fine-Pitch-Komponenten überprüfen
Relevante Merkmale:
XJEase Erweiterten Verbindungstests
XJTAGs einzigartige Technologie beruht auf den Funktionen von Boundary-Scan, um eine produktionsfertige Lösung für eine schnellere Fehlererkennung und Korrektur zu liefern. Sie können Ihre Effektivität erhöhen, indem sie mehr Fehler schneller finden und somit die Nacharbeit erheblich reduzieren. Die sofortige Identifizierung von Problemen ermöglicht Ihnen die Testzykluszeit zu optimieren.
Die Software-Produkte bieten Visualisierungsfunktionen, die den Ingenieuren helfen Störungen zu „sehen“ und beinhalten einen Schaltplan-Viewer, der Ihre Schaltung zeigt, einen Layout-Viewer, der die Netze hervorhebt, die Fehler aufweisen und die Waveform-Viewer, der digitale Signale anzeigt.
Entwickeln Sie Tests schnell mit XJDeveloper, führen Sie die Tests in XJRunner aus und analysieren die Ergebnisse eingehender, indem Sie die leistungsstarken Diagnosefunktionen von XJInvestigator verwenden. Das innovative Fehlerregister (Fault Dictionary) bietet eine einfache Möglichkeit, Symptome und Ursachen häufiger Fehler zu teilen und zu dokumentieren, um somit gängige Ursachen zu archivieren und künftige Fehler noch einfacher und effektiver aufzuspüren.
Mit XJTAG können Sie schnell:
- Fehler auf bestückten Leiterplatten finden
- Fehler schnell optisch lokalisieren
- Störungen und deren Ursachen dokumentieren und teilen
Relevante Merkmale:
Layout Viewer Schematic Viewer
Jeder Aspekt unserer Technologie wurde entwickelt, um leicht erlernbar, einfach zu bedienen und kostengünstig einsetzbar zu sein. XJTAG-Produkte reduzieren die Kosten für die Entwicklung teurer Prüfadapter und komplexer Testsysteme und ermöglichen somit gleich zweifache Einsparungen bei den NRE-Kosten (Non-Recurring Engineering).
Vereinfachen Sie Ihre Testsysteme mit der Verwendung von Boundary-Scan, um so die Anzahl der erforderlichen Prüfspitzen in Prüfadaptern zu reduzieren, während die Testabdeckung aufrecht erhalten oder gar verbessert wird.
Sparen Sie wertvolle Testentwicklungszeit mit Hilfe der integrierten Testmodell-Bibliothek und einer intuitiven Benutzeroberfläche. Erzeugen Sie schnell Tests, um Fehler in Prototypen oder seriellen Leiterplatten identifizieren und debuggen zu können. Machen Sie sich frei von teuren Produktionsanlagen indem sie in der Lage sind, ein Testsystem mit nichts mehr als einem PC zu entwickeln und zu debuggen.
Verwenden Sie XJTAG während des gesamten Produktlebenszyklus: nutzen Sie das gesamte Testsystem von der Entwicklungsphase bis zur Produktion, ohne dass zusätzliche Kosten für Sie entstehen.
Mit XJTAG können Sie:
- Die Kosten und den Umfang für Prüfadapter reduzieren
- Testentwicklungszeit sparen
- Die Tests während des gesamten Produktlebenszyklus mehrfach verwenden
Relevante Merkmale:
Erweiterten Verbindungstests Fault Dictionary
Machen Sie XJTAG Boundary-Scan zum festen Bestandteil Ihrer gesamten Testlösung: Die Integrationsunterstützung steht für alle wichtigen Testausführungen sowie proprietäre Systeme zur Verfügung.
Beispiele für die Ausführung von XJTAG-Tests auf TestStand, LabView™ und LabWindows™ werden mit allen XJTAG-Systemen zur Verfügung gestellt, genauso wie Beispiele dafür, wie C# verwendet werden kann, um auf die zugrunde liegende .NET-Schnittstelle zuzugreifen. Die Tests können auch von der Kommandozeile ausgeführt werden, so dass jede zu Systemaufrufen fähige Software XJTAG integrieren kann.
Wenn Sie In-Circuit-Tester verwenden, haben wir geprüfte Lösungen für die Integration von XJTAG-Software und Boundary-Scan-Controller in Keysight i3070 (mit Unterstützung für in BT-Basic geschriebenen Tests) und der Teradyne-TestStation. XJTAG bietet auch eine vollständige Integrationen, die um SPEA Flying Probe-Testsysteme oder Nadelbett-Funktionalität erweitert sind und gleichzeitig ICT und Boundary-Scan-Tests umfassen.
Mit XJTAG können Sie ganz einfach:
- NI TestStand, LabView und LabWindows integrieren
- Schnittstellen zu ICT-Systemen wie Keysight Technologies i3070 und Teradyne-TestStation herstellen
- Die Möglichkeiten von SPEA Flying-Probe oder Nadelbettsystemen ausweiten
Relevante Merkmale:
XJAPI Benutzerdefinierte Integration
Mehr über XJTAG Software XJTAG Hardware
XJTAG kann Ihnen bereits in den frühen Phasen der Produktentwicklung wertvolle Zeit sparen. Erfahren Sie mehr über die Anwendung von XJTAG für Schnelle Prototyp-Boardentwicklung & Debugging
