XJDeveloper — Vollständige Testentwicklungsumgebung
XJDeveloper ist die integrierte Entwicklungsumgebung von XJTAG, die umfassendste Integration von Boundary-Scan-Funktionen, Flexibilität und Produktivität.
XJDeveloper ist eine integrierte Entwicklungsumgebung für die Entwicklung und Ausführung von JTAG-Tests. Durch den intuitiven Entwurfsablauf haben Ingenieure einfachen Zugriff auf die marktführende Verbindungs- und funktionsbasierte Testtechnologie von XJTAG. Dies wird durch eine große integrierte Bibliothek von Komponententests unterstützt, kombiniert mit der Möglichkeit, auf einfache Weise zusätzliche Tests zu entwickeln. Erweiterte Tools zur Fehleranalyse und -visualisierung sind standardmäßig enthalten. XJDeveloper unterstützt auch die systeminterne Programmierung (einschließlich XJFlash) sowohl von JTAG-Komponenten (z. B. CPLDs und FPGAs) als auch von Nicht-JTAG-Komponenten (EEPROMs, Flash-Speicher).
Mit XJDeveloper erhalten Ingenieure einfachen Zugriff auf die in IEEE 1149 (JTAG) definierten Funktionen. Dieser Standard kann während des gesamten Produktlebenszyklus verwendet werden, um die Vorteile von Boundary-Scan-Tests für jedes noch so komplexe Produkt zu nutzen. Die Projekte konzentrieren sich auf die zu testenden Komponenten. Die leistungsstarke Verarbeitungstechnologie von XJTAG erstellt automatisch Testvektoren auf niedriger Ebene, ohne dass der Benutzer wissen muss, wie sie erstellt werden. Die Testabdeckung kann zu jedem Zeitpunkt im Projekt-Setup angezeigt werden, um den Fortschritt des Setups zu bewerten oder um zu sehen, wie das Design verbessert werden kann. Nach Abschluss des Projekts können mit XJDeveloper XJRunner-Projekte zum Testen und Programmieren in der Produktion erstellt werden.
Mit XJDeveloper können Tests während der Prototypenerstellung ausgeführt werden, ohne dass ein Anwendungscode verfügbar sein muss. Die Verwendung derselben Benutzeroberfläche, die später für das Testen in der Produktion verwendet wird, gewährleistet einen reibungslosen Testfluss vom Prototypen-Debug bis zum Produktionstest.
XJDeveloper unterstützt alle Testfunktionen der XJTAG-Produktpalette, um Ihnen volle Flexibilität für all Ihre JTAG-Testanforderungen zu bieten.
Verbindungen testen
Boundary-Scan-Tests mit XJDeveloper beginnen mit dem Advanced Interconnection Test von XJTAG. So kann ein höherer Prozentsatz einer Schaltung getestet werden als mit den meisten anderen JTAG-Lösungen und es wird automatisch aus den Daten generiert, die während des Testaufbaus angegeben wurden. Der Verbindungstest bildet den Kern der Testabdeckung für Ihre Karte und überprüft JTAG-zugängliche Netze auf Kurzschluss-, Stuck-High / Stuck-Low- Fehler und offener Schaltung. Der Test umfasst Überprüfungen auf fehlende Pull-Up / Pull-Down-Widerstände und resistive Kurzschlussfehler. Es wird auch die Logikkomponente in der Schaltung dynamisch angesteuert und den Netzen, auf die JTAG nur über Logikkomponenten zugreifen kann, eine Testabdeckung gegeben.
XJEase-Modellbibliothek
Nach dem Verbindungstest führt XJTAG weitere Tests durch, die in der XJEase-Sprache geschrieben sind und normalerweise aus der integrierten Testbibliothek von XJTAG stammen. Die Tests verwenden die Funktionalität der Komponenten auf dem Board, um zu überprüfen, ob sie vorhanden und korrekt angeschlossen sind. Da XJEase eine voll funktionsfähige Programmiersprache ist, sind diese Tests dynamisch und so geschrieben, dass sie optimierte Tests zur Erkennung von Fehlern durchführen und dann bei Bedarf zusätzliche Tests ausführen, um das Problem zu lokalisieren.
Komponentenzentrierte Tests
Die Bibliothekstests von XJTAG sind komponentenzentriert – sie sind spezifisch für den zu testenden Komponententyp, jedoch nicht für die Schaltung, in der sie platziert sind, oder für die JTAG-Komponenten, mit denen die Netze auf der Leiterplatte angesteuert werden. Dies bedeutet, dass Tests einfach zum Projekt hinzugefügt und ohne Änderung wiederverwendet werden können, wenn dieser Komponententyp in anderen Projekten wiederverwendet wird. Mit der Zeit reduziert XJTAG die Entwicklungskosten der Testentwicklung erheblich.
XJDeveloper bietet eine vollständige Palette von Test-Debugging-Funktionen und gibt Ihnen Zugriff auf den Quellcode für jeden Test, der in der XJTAG-Bibliothek bereitgestellt wird. Es ist daher möglich, die Tests in Betrieb zu sehen und sie bei Bedarf für neue Komponenten anzupassen.
Fehleranalyse
Der Hauptzweck eines JTAG-Testsystems besteht darin, Fehler in Leiterplattenbaugruppen zu erkennen. Der wahre Wert dieses Systems liegt jedoch in seiner Fähigkeit, die Fehlerursache genau zu identifizieren.
XJDeveloper kann eine Vielzahl von Fehlern finden und identifizieren. Informationen zu den Fehlern können mit importierten Netzlisten- und Schemadiagrammen kombiniert werden, um die Netze mit Fehlern grafisch darzustellen. Mit den Viewer-Tools von XJDeveloper können Netze sowohl im Schaltplan als auch im Leiterplattenlayout hervorgehoben werden. Der Schaltplan-Viewer und der Layout-Viewer sind auch in XJRunner, der Produktionstestumgebung von XJTAG, und in XJInvestigator, der erweiterten Fehlerdiagnose- / Nacharbeitsstation, verfügbar.
Diese standardmäßig bereitgestellten leistungsstarken Funktionen bringen die Fehleranalyse auf ein neues Niveau. Wenn Sie beispielsweise alle Punkte in einem Netz sehen können, an denen ein Kurzschluss aufgrund eines Herstellungsfehlers aufgetreten sein kann, können Sie wertvolle Zeit bei der Nacharbeit sparen.
Systeminterne Programmierung (ISP)
Die systeminterne Programmierung über ein JTAG-Tool bietet eine einfache Möglichkeit, den nichtflüchtigen Speicher während oder nach der Leiterplattenmontage zu konfigurieren. Mit XJDeveloper kann die systeminterne Programmierung von Flash und FPGA / CPLDs durchgeführt werden.
Mit JTAG können programmierbare Komponenten jeder Größe konfiguriert werden, indem Adress-, Daten- und Steuerinformationen über die JTAG-Kette seriell auf die entsprechende Komponente verschoben werden. Dies ist ideal für kleinere Komponenten wie EEPROMs, die beispielsweise eine Seriennummer enthalten. Die Verwendung dieser Methode für die systeminterne Programmierung größerer Images, z. B. eines gesamten Dateisystems, würde jedoch zu Programmierzeiten führen, die für eine Produktionsumgebung zu lang sind. Die Lösung dafür ist eine hardwarebeschleunigte Programmierung.
Beschleunigte Programmierung
XJTAG hat sein Know-how in JTAG genutzt, um Ingenieuren branchenführende Lösungen anzubieten, die vor der Herausforderung stehen, eine schnellere hardwarebeschleunigte Programmierung über eine Boundary-Scan-Schnittstelle bereitzustellen. Dies kann die vorübergehende Neukonfiguration einer FPGA auf einem Board als „systeminterner Programmierer“ beinhalten. Diese fortschrittliche Technik ermöglicht es XJTAG, große nichtflüchtige Flash-Speicher zu programmieren, wobei die Geschwindigkeit häufig durch die programmierte Komponente eingeschränkt wird. XJTAG nennt diese Lösung XJFlash. Es hat sich gezeigt, dass Programmierzykluszeiten 50-mal schneller beschleunigt werden als mit dem Boundary-Scan-Test allein. In einigen Fällen sind die Programmierzeiten sogar schneller als die vom Hersteller veröffentlichten Zahlen.
XJDeveloper bietet eine Reihe von Beschleunigungsoptionen, darunter XJFlash für die Programmierung mit FPGAs oder CPLDs und XJDirect, das mit einer integrierten CPU oder einem Mikrocontroller programmiert. Andere Anwendungen stellen möglicherweise ungewöhnlichere Anforderungen, und für solche Boards bietet XJTAG Beratung an, um maßgeschneiderte Lösungen zu entwickeln. Alle programmierbaren Komponenten auf einer Platine können verwendet werden, um die gewünschten Ergebnisse mit hoher Geschwindigkeit zu erzielen. Bitte kontaktieren Sie uns, wenn Sie mehr darüber erfahren möchten.
Eigenschaften
- Erweiterter Verbindungstest
Testet einen höheren Prozentsatz Ihrer Schaltung als die meisten anderen JTAG-Lösungen und bietet eine hochpräzise Fehlerisolierung. - Testen und Programmieren von Nicht-JTAG-Komponenten
Nicht-JTAG-Komponenten, die mit Komponenten in der Kette verbunden sind, können für erweiterte Tests genauso einfach bearbeitet werden wie Komponenten in der Kette – z.B. Ethernet Loopbacks. - Flexible Testbeschreibungssprache auf hohem Niveau
Entwickelt, um den Prozess der Testerstellung zu vereinfachen. - Komponentenzentrierter Ansatz
Komponententests können ohne Änderung in verschiedenen Schaltkreisen wiederverwendet werden. - Bedingte Testausführung auf hoher Ebene
Bestimmen Sie anhand der Platinenkonfiguration, der Ergebnisse früherer Tests usw., ob Tests ausgeführt werden sollen. - Integrierte Testbibliothek
Die XJEase-Komponentenbibliothek enthält Modelle für Zehntausende von Standardteilen. - Revisionen
Einfaches System zur Handhabung geänderter Versionen von Schaltkreisen. - Dynamische Ketten
Ändern Sie die JTAG-Kettenkonfiguration während des Tests, einschließlich der Änderung der Frequenz. - Varianten
Erstellen Sie mehrere Build-Varianten auf einem einzigen Platinendesign. - Layout Viewer zur Anzeige der physischen Position von Schaltungselementen und fehlerhaften Netzen.
- Schematic Viewer zur Anzeige der Schaltungsfunktionalität beim Entwickeln oder Debuggen von Tests
- Öffnen Sie Testimplementierungen
Benutzer können die während des Verbindungstests gesteuerten Daten anzeigen und Code aus der XJEase-Bibliothek anzeigen oder bearbeiten. - Waveform View
Sehen Sie eine grafische Darstellung der Wellenformen beim XJEase-Test und im Analyzer-Bildschirm an. - XJEase-Software-Debugger
Gehen Sie den XJEase-Code durch, legen Sie Haltepunkte fest und untersuchen Sie die Variablenwerte, um Ihre Testentwicklung zu beschleunigen. - Sie müssen nicht verstehen, wie JTAG funktioniert
Das XJTAG-System ermittelt für Sie, wie die JTAG-Ketten gesteuert werden müssen. - Programmieren Sie Komponenten im System
SVF- und STAPL-Dateien können von XJDeveloper ausgeführt werden, um Komponenten zu programmieren, oder XJEase-Skripte können verwendet werden, um ein Image direkt zu programmieren. - Exportieren Sie Projekte in XJRunner
XJRunner-Projekte verhindern Testveränderung für die Bereitstellung zur Nutzung in der Produktion. - Analyse der Testabdeckung
Analysieren und generieren Sie Berichte über die auf Ihrer Schaltung erzielte Testabdeckung. - 1149.6-Unterstützung
Unterstützt 1149.1 und 1149.6-Komponenten
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