Cambridge, UK, 27 Maggio 2014 — Mercoledì 18 giugno, XJTAG e il suo partner tecnologico IPSES terranno un workshop gratuito di un giorno sui benefici dell’integrazione di test boundary scan e test funzionale. Il workshop, organizzato in collaborazione con National Instruments Italia, si svolgerà, presso il Centro Direzionale di National Insturments di Milanofiori Nord-Assago a Milano.
XJTAG, durante il 2014, sta organizzando workshop in tutto il mondo sulla tecnolologia Boundary Scan. Questo evento in particolare è però il primo nel suo genere perché si focalizzerà sull’uso combinato di boundary scan JTAG e test funzionale in un’unica stazione di test, mostrando come l’integrazione porti a notevoli e concreti vantaggi aumentando l’affidabilità e l’efficacia del test e riducendone i costi.
Il seminario pratico, partendo da un’introduzione allo standard IEEE 1149.x, mostrerà come unire boundary scan XJTAG e test funzionale all’interno delle piattaforme hardware di National Instruments, per arrivare a una piena integrazione anche dal punto di vista dell’interfaccia utente.
Il boundary scan JTAG è una tecnologia estremamente affidabile progettata per far fronte ai problemi legati all’accesso fisico di componenti complessi su schede elettroniche di densità medio-alta. La sua associazione con altre metodologie di test consente di coprire vicendevolmente le aree in cui ogni tecnica può essere carente, rendendo il test ancora più sicuro.
In particolare, la sua combinazione con il test funzionale è estremamente efficace perché consente praticamente la totale copertura delle esigenze di test del DUT, con una più veloce e accurata diagnosi degli scarti e una verifica sia dei suoi componenti e del loro montaggio, sia delle sue funzioni. Le piattaforme PXI consentono una facile e veloce integrazione dell’hardware necessario per avere una stazione di test unica e le sequenze di test boundary scan e funzionale non solo possono essere eseguite in parallelo, ma si possono far interagire tra loro, con un incremento dell’efficacia del test che è più elevata della somma dei due e con notevole risparmio di tempo.
Il workshop si terrà presso il Centro Direzionale di National Instruments a Milano, Italia, mercoledì 18 giugno 2014.
Per maggiori informazioni e per iscriversi all’evento potete consultare il sito ipses.com/Azienda/Eventi-e-News o scrivere a info@ipses.com.
Chi è XJTAG (www.xjtag.com)
XJTAG, leader mondiale di soluzioni Boundary Scan conformi allo standard IEEE 1149.x, sviluppa prodotti innovativi e fornisce un supporto tecnico di elevata qualità. L’azienda ha sede a Cambridge (UK) e uffici a Boston, MA- USA ed è operativa in tutto il mondo grazie al contatto diretto con oltre 50 distributori e partner tecnologici esperti e professionali. XJTAG offre una vasta gamma di soluzioni per il test Boundary Scan per i più svariati settori di applicazione tra cui aerospaziale, automobilistico, difesa, medicale, produzione, networking e telecomunicazioni.
Chi è IPSES (www.ipses.com)
Con uffici e laboratori alle porte di Milano, IPSES opera nell’ambito delle tecnologie d’avanguardia, rivolgendo la propria attività al settore della strumentazione per laboratorio e alla progettazione di soluzioni elettroniche personalizzate. IPSES opera nell’ambito del design hardware, firmware e software, in particolare per testing e misura, controllo industriale, sistemi embedded, reingegnerizzazione e migrazione. IPSES è National Instruments Alliance Partner e XJTAG technology partner, con ottime conoscenze delle piattaforme National Instruments e dell’integrazione dell’hardware e del software National e XJTAG per il testing soprattutto in campo automotive, RF ed elettronico. Inoltre, IPSES è partner di Sistel-6TL per vendite e supporto tecnico dei sistemi di test 6TL in Italia e Svizzera.
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XJTAG e IPSES organizzano un Workshop su test funzionale abbinato a Boundary Scan a Milano
