Avendo familiarità con i vantaggi del boundary-scan, ma frustrati dalle limitazioni dei noti sistemi di test JTAG, i tecnici del colosso industriale e tecnologico Eaton hanno scelto di passare a XJTAG. XJTAG è veloce e facile da imparare, offre funzionalità molto comode nella fase di sviluppo del progetto, consente di avere il controllo del codice di test e permette l’integrazione con apparecchiature di test per la produzione.
Eaton è una società che si occupa di power management in contesti diversificati, con presenza globale e una storia di continua innovazione che risale al 1911. Oggi, come leader nei prodotti e servizi legati al power management, Eaton ha competenze nel campo elettronico che coprono aree come controlli industriali, misurazione, protezione motori e comunicazioni.
Il gruppo di test engineering di Eaton, guidato dal Test Engineering Manager James Diem, ha oltre un decennio di esperienza sul test di prototipi e la produzione di assiemi utilizzando tools boundary-scan. Boundary-scan fornisce uno strumento veloce ed efficace per il test dei componenti come DSP, microprocessori, FPGA e memorie con package SMD, come ad esempio i BGA (Ball Grid Array).
“Il test boundary-scan può essere molto efficace, soprattutto se i pin dei componenti sono inaccessibili, ma anche i sistemi di test ben noti possono essere difficili da utilizzare e non permettono facilmente l’update dei test o l’integrazione con applicazioni di test di terze parti”, dice James Diem.
“Abbiamo trovato la soluzione a queste sfide, dopo uno dei nostri progettisti ha visto la dimostrazione di XJTAG in una fiera, e ci ha riportato quanto facile sia la creazione di applicazioni, la generazione di test, e le eventuali successive modifiche al codice di test.”
“XJTAG ha caratteristiche che sono di gran lunga superiori ad altri sistemi che conosco. La curva di apprendimento per i nuovi utenti è notevolmente più corta: una sessione di training con XJTAG mi ha fornito conoscenze sufficienti per iniziare a sviluppare programmi semplici. Ora, posso creare un test completo per una nuova scheda nel giro di qualche giorno, mentre altri sistemi possono richiedere settimane di lavoro. In particolare mi piacciono le funzioni d’import di file BOM e CAD, l’ambiente di “Categorizzazione Componenti” e la possibilità del pin-mapping via software; tutto ciò semplifica tantissimo la generazione del test iniziale.”
“A differenza di altri sistemi, XJTAG rende molto semplice l’aggiornamento dei programmi, e in più fornisce anche degli esempi di test che aiutano i tecnici a imparare come ottenere il meglio dal boundary-scan.” James Diem loda anche altre caratteristiche di XJTAG, come ad esempio la conveniente licenza ‘floating’, l’ampia e sempre crescente libreria di test per i componenti standard, e l’alto livello di supporto al cliente fornito. “Quando pongo delle domande ho piena fiducia che le mie richieste siano comprese e che riceverò le risposte che mi servono”, commenta il Sig. Diem.
Eaton sta usando XJTAG per testare prototipi e apparati. Per la produzione, XJTAG è integrato direttamente in sistemi che eseguono i test scritti in linguaggio C per Virtual Intruments (CVI). I programmi boundary-scan vengono prima sviluppati utilizzando l’ambiente XJDeveloper di XJTAG e poi vengono incorporati in CVI. I tecnici stanno usando XJTAG per attività come l’estensione della copertura di test anche per quei componenti connessi alla catena boundary-scan – come switch, potenziometri, LED o dispositivi logici – per la programmazione on board dei microprocessori e per i test supplementari di schede di produzione sottoposti a test funzionali.
James Diem riassume: “Lavoriamo con XJTAG ormai da oltre un anno, e posso dire che le capacità di questo sistema corrispondono o addirittura superano quelle del nostro sistema precedente, per qualsiasi aspetto.”
