日本語プレスリリース

XJTAG社は、エンジニアがより良いテストプログラムを開発し、より効率的に運用することを支援する最新のソフトウェアのリリースを発表しました。XJTAG 3.9では、開発者独自のテストコードからバウンダリスキャンによる各ピンの制御を行う新しいAPIや、再利用を最大限にする設定可能なオプションを持つデバイスモデル用のエディタ、 そして既存のシステムで分析がさらに簡単になったなログファイルの強化などの拡張が行われました。

米国カリフォルニア州サンノゼ市 — ケイデンス・デザイン・システムズ社は、OrCAD®　Captureが、回路図入力およびプリント基板設計システムのDesign　For　Test（DFT）及びデバッグ機能を大幅に向上する利便性の高いインターフェイスであるXJTAG®　DFT　Assistantを統合し、強化されたことを発表しました。 ハードウェア製造前の設計段階において早期に回路基板の不具合の検出・修正を可能にするソフトウェアインターフェイス

XJTAG社の最新ソフトウエアリリースでは、基板が持つJTAG機能を最大限に活用して最高のテストカバレッジが得られるよう、JTAGチェイン制御の柔軟性を高めることができる。

XJTAG社、電子基板のデバッグ・解析の新機能としてXJInvestigatorを発表。 XJInvestigatorはXJTAG社JTAGバウンダリスキャンテスタの最新版（v3.1）に搭載される。また新たな機能追加であるFault Dictionaryによって欠陥の診断作業がステップバイステップに支援される。他にも最新版ではコードエディタ、ユーザ承認機能、追跡調査の支援などが強化される。

XJTAG社はMicron 社 Phase Change Memory (PCM) の最初のサポートを明らかにした。 PCM（相変化メモリ）はシステム性能を強化することに加えて基板実装後にプログラミングができる。XJTAG 社は Micron 社と協力し、最大書き込み速度でPCMへプログラミングできる機能をXJTAG バウンダリスキャンシステムに追加した。これにより顧客は製品や開発レベルでPCMに対して即座にプログラミングが行える。これは XJTAGの高速Flashプログラミング機能であるXJFlash で実現される。

XJTAG バウンダリスキャンの第二世代となるXJTAG XTRシリーズを発表した。 このXJTAG XTRシリーズには既存のXJTAG開発システムに加え、複数JTAGチェイン対応、電圧・周波数測定など数々の新機能と使い勝手の強化が施された。