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回路図入力段階でテスト容易化設計(DFT)のチェックを可能にする無料プラグインを活用して、基板の再設計を未然に防ぐことや、テストのカバレッジを最大限にすることができるようになります。

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富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

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