XJTAGのJTAGバウンダリスキャンテストについて

複雑なフィクスチャを使用したり、ファームウェアをロードすることなく、基板をテストしたいですか? XJTAG バウンダリスキャンは、高速かつ便利なソリューションを提供します。 超高速プログラミングやデバッグ機能も備えています。 BGA実装の障害を電気的に検出します。 多くのテストポイントを用意する必要は無く、研究開発にも量産検査にも最適なソリューションです。 これについて、ご紹介します。

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富士設備の専門家が、JTAGバウンダリスキェンテストによる欠陥の検出や、テストの開発方法等について、デモを介して紹介します。

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