JTAGは、業界標準として30年の歴史がある技術ですが、テストおよびプログラミングツールとしての有効性は、まだ認識され始めたばかりです。

接続テストとインシステムプログラミング（ISP：In System Programming）の２つは、JTAGの最も一般的なアプリケーションです。しかしながら、他にも多くの注目すべき技術があります。

電子回路実装基板上のJTAG準拠でないセクションは、JTAGチェーン内のデバイスと回路内の他のデバイス間で相互に接続されるネットを介してテストを行うことができます。

XJTAGは、JTAGの可能性を最大限に引き出すことを目的に設計された、ソフトウェア製品とJTAGコントローラーハードウェア（さまざまな接続オプション）からなる開発システムです。

デバイス密度の増加や、最近ではBGAパッケージなどのシリコン設計の進歩により、従来のテスト手法の有効性が低下しています。

これらの問題を克服するために、世界の主要なシリコンメーカーが結集して、Joint Test Action Groupが発足しました。このグループの調査結果と推奨事項は、米国電気電子学会（IEEE）標準1149.1：Standard Test Access Port and Boundary Scan Architectureの基礎として採用されました。この標準はグループへのリンクを保持しており、一般的に頭字語JTAGで知られています。

デバイスがJTAGに準拠するには、そのデバイスが実装するJTAGの内容を記述するBSDLファイルが必要です。

JTAGチェーンを介して送信される、プラットフォームに依存しないテストシーケンスを表す方法はSVFです。