最大限のテストカバレッジを満たすためには、JTAGを持たないデバイスのテストも非常に重要です。
接続テストは、多くの回路の物理的な製造上の整合性を非常によくチェックします。ただし、検出できない障害があります。たとえば、断線を接続テストで確認するには、対象となるピンと設計内の別のピンの間で通信できる場合のみ可能です。つまり、接続テストでは、JTAG機能を備えたデバイスのピンと、少なくとも1つの他のJTAG対応ピンとで挟み撃ちできるネット上なら断線障害をチェックできます。

接続テストは、障害を見つけるための最も効果的なツールですが、JTAGチェーン内のデバイスのアクセス可能なピン/バス間の接続を使用して、非JTAGデバイスの信号を駆動および監視することにより、他のピンの断線障害をテストもできるようになります。この方法で非JTAGデバイスの機能テストを実施することで、JTAG対応デバイスと周辺デバイスの両方の断線や、短絡およびスタックの障害も検出できます。

この形式のテストは個々のデバイスで使用できますが、多くの場合、回路内の非JTAGデバイスのグループまたはクラスターに適用されます。一部のJTAGツールベンダーは、このタイプのテストをクラスターテストと呼んでいます。

メモリテスト

このようなテストのバリエーションの１つは、メモリテストです。JTAGテスト信号のシーケンスは、メモリデバイスのアドレスとデータバスを操作してメモリに情報を書き込むために作成され、次にこの情報を読み戻す2番目のテスト信号のセットが生成されます。これは、SRAM、SDRAM、フラッシュメモリまたは任意のバリアントに適用できます。　DDR4接続テストの詳細»

その他の非JTAGデバイス

非JTAGデバイスがJTAGデバイスに接続されている場合、その機能や接続をある程度テストできます。例えば：

• 外部コネクタ
• ビデオチップ
• IICデバイス
• イーサネットコントローラー
• LED
• スイッチ
• などなど…

XJDeveloperを使用して非JTAGデバイスをテストする方法について、サンプルスクリプトを参照いただけます。

資料

DDR4のテストもJTAGバウンダリスキャンで

How JTAG handles latest memories and flash devices