Advance Tech Communications 社は、真の携帯電話一体型PCの先駆けとなる製品の、市場投入を早めるための迅速なるテスト、そして高度に複雑な機能をテストする唯一の解として、XJTAG バウンダリスキャン開発・テストプラットフォームを採用しました”
” Advance Tech Communications 社は、真の携帯電話一体型PCの先駆けとなる製品の、市場投入を早めるための迅速なるテスト、そして高度に複雑な機能をテストする唯一の解として、XJTAG バウンダリスキャン開発・テストプラットフォームを採用しました”
Advance Tech 社では、システムオンシリコン（SoS）、マルチ チップモジュール（MCM）を採用し、この製品の強力で多彩な機能を 125mm x 70mm x 32mm サイズに収めました。
そのPCB 基板は、”M.A.G.I.C.Shiv1” の豊かな機能と同様に高密度実装であり、従来式のプローブテスターだけでは十分なテストのカバレッジを得ることはできません。このテスト容易性への課題に対し、バウンダリスキャンテストを開発の早期段階から採用し、製造テストにまで活用しました。 ”XJTAGを採用した理由は、テストの開発が容易で迅速に行えるためです” – CP Loi 氏, CEO, Advance Tech Communications ”真の携帯電話一体型ＰＣ を真っ先に市場供給するためには欠かせませんでした”
XJTAG の効率の良い機能使い勝手の良い XJTAG の XJDeveloperは、グラフィカルな環境でのドラッグ・ドロップでテストが開発できて、自動スキャンチェイン検出機能などと合わせて、Advance Tech 社の開発者を支援しています。 ”容易で即座に立ち上げられること。XJTAG の DFT（デザインforテストカバレッジ）によりテストされないピンやネットをワンクリックで確認し、テスト対象基板が用意される前に、テストの容易性を改善することができた” – CP Loi 氏 ”また XJEaseによるバウンダリスキャンテストの開発は直感的です。XJTAGのテストはデバイス・セントリックなので、無償ダウンロードで得られる汎用部品のスクリプトと、弊社独自デバイス用に作ったテストを一体化できる。そして殆どのテスト容易性への課題はハードウエアが出来る前に解決され、最初のプロトタイプが出来上がると、直ちに開発済みのテストが実行できる”
量産へ優位な機能”M.A.G.I.C.Shiv1”は、その開発を通じて進化をしてきましたが、開発プロジェクトの早期に作成されたテストを活用し、量産テスト開発に再利用することができました。”製品全体の信頼性は弊社ブランドにとって極めて重要なので、各ユニットごとにバウンダリスキャン、機能テスト、接続性テストを組み合わせました。 XJTAG を用いてこれら異なる処理を調和させ、サードパーティのテスト環境を組み合わせるのにかかる工数を削減しました。またXJTAG社のエンジニアは、高速、リピータブル、ユーザフレンドリーな自動化テスト環境構築をサポートしてくれました。” バウンダリスキャンテストにおいては、XJTAGの進化型接続テスト（advanced connectivity testing）などにより、個々の基板の欠陥内容、位置をピンポイントでデバッグすることができています。
”プラットフォームに依存しないテストソリューションであり、デバイスのテストは再利用が容易なため、弊社の新製品開発において、XJTAG はテスト戦略上の中心的役割を担うことでしょう。”
