英国ケンブリッジ、14 April 2015 — XJTAG社（バウンダリスキャン技術の第一人者）は、ソフトウエアの最新版の提供を開始した。このリリースでは、基板が持つJTAG機能を最大限に活用して最高のテストカバレッジが得られるよう、JTAGチェイン制御の柔軟性を高めることに主眼を置いている。
複数のJTAGチェインを有する基板で、あるチェイン内のデバイスがその他のチェイン内のデバイスの電源やリセットを制御する設計の場合、ダイナミックチェイン手法を用いることで初期化が容易になる。
またフラッシュデバイスへの書き込みの場合、必要なチェインのみにデータを流し込み、他のチェインは休止させておくことができるので、制御プログラムは非常に簡単になる。そして多くのスキャンを取り除くことで、書き込み速度を飛躍的に向上させる。
“最新の顧客事例として、非常に複雑な基板の製造時のフラッシュプログラミングが、単一のJTAGデバイス制御に限定させることで、13分から3分に短縮することができました。このリリースは、製品ライフサイクルにわたってXJTAG製品を活用する顧客へのアップデートとして提供します。”Simon Payne, CEO
システムの高速化と柔軟性の向上に加えて、JTAGコントローラであるXJLink2と基板の接続仕様を記述できるようにした。この機能により、XJLink2の未使用ピンをプローブとして用いることでカバレッジの向上が期待できる。
また最新版では、XJEase テストプログラミング言語を改善し、一新されたコンパイラにより、速度向上およびCPU負荷の軽減が実現された。
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XJTAG社 www.xjtag.com、enquiries@xjtag.com。
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XJTAG社について (www.xjtag.com)
XJTAG社はIEEE Std. 1149.x準拠のバウンダリスキャンツールの第一人者として、革新的な製品を開発して、高いレベルのテクニカルサポートを提供しています。本拠地を英国ケンブリッジに構え、世界中に５０社以上の経験豊富でプロフェッショナルな代理店、テクノロジーパートナーを擁しています。様々なJTAGバウンダリスキェンテストのソリューションを、航空・宇宙、自動車、防衛、医療機器、産業機器、製造装置、通信システムなど、多様なドメインに提供し続けています。
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XJTAGは最新版でダイナミック機能を搭載
