Кембридж, Великобритания, 19 Ноября 2015 — Компания XJTAG мировой лидер в поставке систем пограничного сканирования — объявляет о выходе версии 3.4 системы подготовки тестов печатных плат, в которой произведены улучшения возможностей наблюдения за “текущим” состоянием тестируемой системы на всех этапах жизненного цикла продукта: от проектирования до пост-производственного тестирования.
Так как в современных проектах очень сложно физически подсоединить щупы к очень плотно упакованным контактам микросхем, требуется альтернативный путь отладки и тестирования печатных плат. Возможность получать данные о состоянии контактов микросхем и возможность управлять ими, заложенная в технологию пограничного сканированияboundary scan, позволяет пограничному сканированию стать эффективным инструментом как для пост-производственного тестирования платы, так и для отладки прототипа в процессе проектирования. Для визуализации данных в процессе отладки прототипа при помощи инструмента XJAnalyser был разработан дополнительный инструмент под названием Waveform Viewer, который позволяет отобразить диаграммы сигналов, показывающие в режиме реального времени значения и переключения цифровых сигналов на контактах микросхем, поддерживающих JTAG.
Кроме простого отображения диаграмм сигналов в режиме реального времени, Waveform Viewer может также работать в режиме динамического включения, что позволяет начать запись диаграмм сигналов только после наступления определённого события. Данная возможность позволяет существенно облегчить работу, убирая ненужные данные и избавляя от необходимости визуального поиска нужных.
Использование технологии JTAG позволяет производить запись в режиме реального времени состояний даже спрятанных под BGA корпусом контактов, к которым нет физического доступа. Waveform Viewer включает также все возможности управления значениями контактов микросхемы и их включением/выключением, доступные в инструменте Chain View модуля XJAnalyser, что позволяет работать не только с микросхемами из JTAG цепи, но и с остальными компонентами печатной платы.
“Возможность визуализировать достоверные диаграммы сигналов в режиме реального времени позволяет инженерам исследовать работу платы более детально. Waveform Viewer заполняет недостающее звено, так как теперь мы можем моделировать и наблюдать значения сигналов в графическом виде практически в режиме реального времени, что было недоступно ранее.” — объясняет Bob Storey, Principal Software Engineer, XJTAG.
Улучшенная поддержка многоядерных микросхем
Ещё одним отличием XJTAG v3.4 является улучшенная поддержка микросхем с несколькими JTAG ядрами. Использование нескольких JTAG цепей позволяет проводить более сложные тесты, а улучшенная поддержка многоядерности позволяет XJTAG версии 3.4 существенно улучшить процесс разработки тестов путём упрощения подготовки сложных тестов, проверяющих несколько сценариев с использованием нескольких JTAG цепей на одной плате.
Отображение протокола работы
Модуль для тестирования на производстве XJRunner, входящий в состав комплекса XJTAG, также был существенно обновлён в новой версии. Основные изменения касаются улучшения качества протоколирования проведённых тестов. Так, теперь файл протокола кроме полной информации о каждой найденной неисправности содержит ещё и ссылки на конкретное место неисправности как в схеме, так и в топологии. Ссылки могут быть обработаны встроенными средствами отображения схемы и топологии. Нововведения нацелены на повышение аналитических возможностей анализатора XJAnalyser и повышение эффективности работы с XJDeveloper и XJRunner.
Улучшен поиск предположительных цепей питания и земли
Ещё одно улучшение XJTAG версии 3.4 включает расширение функционала XJDeveloper, ускоряющее подготовку проекта тестирования. Это расширение заключается в улучшении механизма выделения предположительных цепей питания и земли и в улучшении процесса формирования текстовых сообщений об ошибках и предупреждениях, которые теперь включают активные ссылки на место в проекте тестирования, вызвавшее ошибку или предупреждение.
Данное обновление комплекса XJTAG доступно всем пользователям с активной поддержкой. Для новых пользователей доступна полнофункциональная демонстрационная версия.
Дополнительная информация на Английском языке: www.xjtag.com или enquiries@xjtag.com.
Media contact: Philip Ling, Technical Marketing Manager, XJTAG (philip.ling@xjtag.com).
О компании XJTAG (www.xjtag.com)
Компания XJTAG является мировым лидером в поставке программных и аппаратных систем пограничного сканирования на основе стандарта IEEE Std. 1149.x. Штаб-квартира находится в городе Кембридж, Великобритания и тесно сотрудничает с более чем 50-ю опытными профессиональными дистрибьюторами и технологическими партнёрами по всему миру. XJTAG поставляет широкий спектр систем на основе пограничного сканирования, которые применимы в таких областях, как телекоммуникации, сетевые и оборонные технологии, медицинские системы и других.
Со времени выпуска первой коммерческой версии набора инструментов для пограничного сканирования (boundary scan) в 2003 году, обороты компании выросли до нескольких миллионов долларов за счёт продаж по всему миру. Пользователями системы XJTAG являются компании-разработчики по всему миру, в том числе в России и Армении. Система XJTAG используется при проектировании электроники во всех секторах экономики, включая аэрокосмический сектор, автомобилестроение, оборонные технологии, медицину, производство, сетевые технологии, телекоммуникации и т.д. Компания XJTAG входит в состав Cambridge Technology Group.
Изображение (нажмите для изображения в высоком разрешении)
Waveform Viewer displays signal levels captured in-circuit during JTAG boundary-scan testing
Waveform Viewer showing captured bus values
