Точное определение причин производственных дефектов и очень быстрое программирование встроенной памяти. Применение системы тестирования XJTAG в процессе производства позволяет добиться гарантированно высокого качества печатных плат.
Тестирование без физических тестовых точек
Работает там, где тестирование щупами невозможно
Быстрый поиск места дефекта
Основан на возможностях Boundary Scan
Без двойной работы
За счёт упрощения процесса тестирования
Гибкая интеграция
Система XJTAG может стать частью процесса тестирования
XJTAG работает там, где физические щупы бессильны. Пограничное сканирование (Boundary scan) позволяет превратить контакты цифровой микросхемы на плате в виртуальные тестовые точки, что означает, что физический доступ более не является сдерживающим фактором, что в свою очередь существенно расширяет возможности тестирования.
Инструменты комплекса XJTAG делают использование пограничного сканирования (Boundary Scan) совсем простым благодаря сложному автоматическому алгоритму тестирования цепей платы (Connection Test) и большой встроенной библиотеке тестов цифровых микросхем без JTAG интерфейса. Не используя каких-либо физических тестовых точек, система XJTAG может протестировать физическое соединение как между контактами микросхем с поддержкой JTAG, так и между микросхемами, где одна из них поддерживает JTAG, а другие — нет.
При помощи системы XJTAG можно существенно расширить проверку платы за счёт тестирования конкретных функций, выполняемых микросхемами платы, не поддерживающими JTAG, что позволяет выявить более широкий спектр производственных дефектов.
XJTAG позволяет:
- Преодолеть физические ограничения при тестировании
- Тестировать без физических щупов
- Проверять качество пайки контактов корпусов BGA и прочих плотно упакованных микросхем
Соответствующие возможности:
XJEase Тестирование цепей
Уникальная технология системы XJTAG строится на возможностях пограничного сканирования (Boundary Scan) и является готовым к применению решением для быстрого (в условиях массового производства) выявления дефектов и принятия решения об их исправлении. Выявление бо́льшего количества дефектов в более сжатые сроки позволяет увеличить процент выхода плат без брака путём точного понимания природы дефекта и внедрения стандартных действий по исправлению типовых дефектов.
Программная часть комплекса имеет специальные возможности визуализации, которые показывают дефекты в удобном для наблюдения человеком виде. Эти возможности включают: Schematic Viewer — отдельное окно, показывающее принципиальную схему с функцией поиска; Layout Viewer — отдельное окно, показывающее топологию платы и выделяющее цепи, связанные с местом дефекта; и окно отображения диаграммы сигналов, имеющее возможность показывать значения в реальном времени.
Общее повышение производительности достигается в том числе и за счёт использования узко специализированных приложений: XJDeveloper — для подготовки тестов; XJRunner — для запуска и анализа результатов тестов; и XJInvestigator — для дополнительной диагностики с целью устранения неисправности. Инновационный инструмент тестирования под названием “Словарь ошибок” (Fault Dictionary) позволяет на этапе отладки собрать совокупности признаков различных неисправностей и рекомендаций по их устранению в единый “Словарь”, что позволит на этапе тестирования, в случае возникновения одной из сохранённых последовательностей признаков, автоматически выдать инженеру по тестированию рекомендации по дальнейшим действиям.
XJTAG позволяет:
- Найти дефекты на собранной печатной плате
- Быстро найти место дефекта при помощи визуальных подсказок
- Задокументировать признаки типовых ошибок и передать информацию на производство
Соответствующие возможности:
Layout Viewer Schematic Viewer
Каждая функция системы XJTAG задумывалась с таким расчётом, чтобы быть лёгкой в освоении, простой в использовании и недорогой при внедрении. Инструменты системы XJTAG снижают (в идеале исключают) стоимость разработки испытательного оборудования и снижают (в идеале исключают) потребность в дорогих коммерческих системах тестирования, что в сумме даёт двойную экономию инвестиций в первоначальную разработку.
Упрощение испытательного оборудования при использовании пограничного сканирования (Boundary Scan) за счёт сокращения количества необходимых тестовых точек приводит к сохранению на текущем уровне или улучшению покрытия тестами.
Сократить разработку самого проекта тестирования помогают встроенная библиотека моделей тестов и интуитивный интерфейс. Быстрый запуск процесса тестирования помогает скорейшему обнаружению наличия проблемы и ускоряет поиск её месторасположения. Система XJTAG заменяет дорогостоящее производственное оборудование для тестирования обычным персональным компьютером.
Использование системы XJTAG возможно на протяжении всего жизненного цикла проектируемого изделия, при этом перенос системы тестирования на базе XJTAG из проектной лаборатории на производственный конвейер не потребует дополнительных расходов.
Use XJTAG throughout the product lifecycle: move the entire test system from the development bench to your production line without incurring any additional costs.
XJTAG позволяет:
- Сократить стоимость и сложность тестирующего оборудования
- Сэкономить время разработки проекта тестирования
- Использовать тесты на протяжении всего жизненного цикла проектируемого изделия
Соответствующие возможности:
Тестирование цепей Fault Dictionary
Подробнее об XJRunner Аппаратная часть XJTAG
Интеграция с уже имеющимися в наличии тестовыми системами
Система XJTAG Boundary Scan может встроиться в уже существующий на предприятии процесс тестирования: поддерживается интеграция со всеми основными коммерческими системами тестирования.
Примеры проектов совместного тестирования системой XJTAG и такими системами, как TestStand, LabView™ and LabWindows™, включены в инсталляцию. Также, после инсталляции доступны примеры использования языка C для доступа к системе XJTAG через интерфейс .NET. Поскольку тесты могут быть запущены в том числе и из командной строки, то любая сторонняя система тестирования, которая может выполнять системные вызовы, может быть интегрирована с XJTAG.
В случае применения внутрисхемных систем тестирования, система XJTAG сертифицирована для интеграции в систему Keysight i3070 (с поддержкой тестов, созданных в BT-Basic) и в систему Teradyne TestStation. Система XJTAG также интегрирована с системами Flying Probe и Bed-of-Nails компании SPEA, что позволяет проводить тестирование одновременно и через ICT и через Boundary Scan.
XJTAG позволяет:
- Интегрироваться с TestStand, LabView и LabWindows
- Взаимодействовать с системами ICT, такими как Keysight i3070 и Teradyne TestStation
- Дополнять возможности систем flying probe и bed-of-nails компании SPEA
Соответствующие возможности:
XJAPI Индивидуальная интеграция
Подробнее о программной части комплекса XJTAG Аппаратная часть XJTAG
Система XJTAG может сэкономить значительное количество времени на начальных стадиях проектирования изделия. На отдельной странице собрана информация по применению XJTAG для Запуска и отладки первого прототипа
