只用一个易于使用的程序就可以取得最佳的测试覆盖范围并且可以在线烧写芯片。通过利用高级调试工具定位板卡故障原因来提高产量。
克服测试访问问题——即使是BGA芯片
无须增加测试点就能到达之前访问不到的连接点。因为XJTAG不需要物理访问板卡上的每一个点，所以您仅从JTAG TAP连接器就能提高覆盖率——克服了针床和飞针测试的局限。额外的测试设备例如XJIO卡，可以使覆盖率扩大到被测单元的边界，甚至可以检测导电轨的数值。
利用故障查找缩短返修时间
使用精确的、人性化的诊断工具轻松找到故障源头。XJRunner提供可以点击到布局和原理图的链接来显示有故障的网、针或器件。循环测试使调试有间歇性表现的板卡更容易。使用XJAnalyser简单、交互式的图形用户界面不仅可以快速运行即时测试，而且可以直接控制板卡上的JTAG。
在线烧写芯片
通过在线给JTAG器件、闪存和配置PROM编程来设置您的板卡。如果您有大量的数据需要编写，您还可以使用高速的、订制的编程方案，例如XJFlash或者XJDirect。
与您的测试执行程序相结合
简单起见——XJTAG即可以作为一个独立的测试系统也可以与您现有的测试执行程序相结合，从而使得与其它测试设备的互动变得容易。
疾速测试开发
快速地设置、运行测试和编写例行程序。功能完备的测试系统可以很容易地从XJDeveloper的高级连接测试、庞大的非JTAG器件库和集成的XJRunner中生成。
